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如何操作全反射裝置(ATR)? |
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當使用ATR附件時，我們是將IR光入射到折射率較高的晶體中。IR光會在ATR晶體與樣品的界面反射，並且產生一個穿透出晶體界面的非常小的波，這些波再直接入射到樣品。有小部份的能量波會被樣品吸收，其餘的能量波會反射回到晶體中, 再傳至偵檢器中。
以下有幾個參數是影響圖譜結果的關鍵：
(1) ATR晶體與樣品的折射率
(2) IR光的投射角度
(3) 臨界角
(4) 入射的深度
(5) IR波長
(6) 有效的光徑長
(7) 反射的數目
(8) 樣品接觸ATR晶體的品質
(9) ATR晶體的特性
測量樣品時如果IR光的入射角太小、晶體的折射率太小或樣品的折射率太大時，將會產生ATR結合外反射的結果。
另外，一般來說，單一反射的ATR測量小尺寸的樣品的理想的定性分析，但相對來說，其圖譜能量較小，若樣品尺寸許可的情形之下，可以增加ATR晶體的反射數量(N)來增加有效的路徑長，將會有比較明顯的吸收值。
ATR晶體應選擇適用於我們的樣品的測量範圍，且需考慮其耐酸性／鹼性或耐腐蝕性，這些是為了防止晶體損壞。沒有特定的晶體能解決所有的應用，如您有這方面的需求，可與本公司聯絡，以提供更完整的資料。
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