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| Nanotrac Wave II |
基本原理 |
測量結果 |
| 產品規格 |
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| 操作原理 |
三束3mW 780nm Laser, 電腦控制自動校正, 搭配光電二極體檢知器做粒徑分析 |
| 粒徑範圍 |
0.8 - 6500nm |
| Zeta電位 |
+/-200mV, Mobility 0-15.5 microns/sec/volt/cm, size range: 10nm–20um |
| 樣品濃度 |
ppm – 40% |
| 測量誤差 |
≤1% |
| 測量時間 |
30-120秒 |
| 所需樣品量 |
150uL – 2mL |
| 測量方式 |
濕式測量 |
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| 產品特色 |
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| 1.採用最新的動態光散射技術，可同時做粒徑及Zeta電位分析 |
| 2.專利的“Y”型光纖光徑系統，通過藍寶石測量視窗，直接測量懸浮體系中的顆粒細微性分佈及同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化 |
| 3.專利的異相都卜勒頻移技術，較傳統方法獲得光信號強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性 |
| 4.專利的可控參比方法（CRM），能精細分析都卜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度 |
| 5.專利的快速傅利葉變換演算法，縮短分析時間 |
| 6.專利膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度 |
| 7.無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得到分析結果 |
| 8.分析軟體符合21 CFR PART 11藥廠規範
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Nanotrac Wave II