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FT/IR樣品量測技術 - 全反射裝置(ATR)之理論及應用 |
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全反射裝置(ATR)是廣泛使用在測量FTIR樣品的工具, 一般是用在少量的樣品或IR光無法穿透之樣品的定性及定量分析。ATR的樣品測量的好處，主要來自於樣品測量的路徑較短長或IR光進入樣品的滲透深度較小。而傳統的FTIR樣品量測需藉由透明的鹽片或壓成薄來稀釋樣品，如此才可控制IR的吸收值在適當的範圍。
例如測量濃度較濃的聚合物時，分別使用傳統的穿透方法與用ATR的方法來測量：前者所得的IR圖譜由於樣品濃度太高，使得大部份的IR光都全被樣品吸收了, 所以得到吸收過強的圖譜，無法辨識其成份。然而，若將同一樣品放置在ATR晶片上(MIRacle用鑽石晶片)，利用加壓的方式，產生了高品質的光圖譜，即可藉由圖譜搜尋得到此樣品為聚對苯二甲丁烯。且經由ATR測量所得的分析時間僅需要在1分鐘以內。
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